测控系统干扰成因及其抑制

测控系统干扰成因及其抑制

[摘要]随着现代计算机科学技术的快速发展，测控系统干扰成因及其抑制-各类自动化测试控制系统越来越广泛应用于各类工业生产活动中，它对推动今天高科技的发展进程起着巨大作用。本文简略分析了当今自动化测控系统的发展情况，侧重阐述了测控系统中常见的各类干扰及其干扰源，测控系统干扰成因及其抑制-同时对其产生的原因进行较详细的分析，并针对干扰的特性，分别指出了它们的危害范围、影响程度及相关抑制方案，测控系统干扰成因及其抑制-以便于对各类干扰进行抑制处理，从而提高测控系统精度和准确度。

测控系统干扰成因及其抑制[关键词]测控系统；干扰；干扰源；抑制

1 什么是测控系统-测控系统干扰成因及其抑制

计算机自动测量和控制(computer Automated Measurement And Control)系统(简称测控系统)是一门新兴技术,测控系统干扰成因及其抑制-它是自动化控制技术、计算机科学、微电子技术和通信技术有机结合、综合发展的产物。测控系统包含的内容十分广泛，它包括各种数据采集和处理系统、自动测量系统、生产过程控制系统、导弹与卫星的检测及发射控制系统等，广泛应用与航空/航天、核科学研究、工厂自动化、测控系统干扰成因及其抑制-实验室自动测量和控制、以及办公自动化、商业自动化、家庭自动化等人类生活的各个领域[1]。